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電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱(也叫冷熱沖擊測(cè)試箱)主要用于測(cè)試電子元件(如電容、電阻、連接器等)在惡劣溫度變化下的工作穩(wěn)定性與耐久性。該試驗(yàn)箱通過模擬電容、電阻元件在快速冷熱變化環(huán)境中的行為,以評(píng)估其在實(shí)際應(yīng)用中可能遭遇的溫度應(yīng)力及長(zhǎng)期使用的可靠性。

  • 產(chǎn)品型號(hào):DR-H203-6I
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-12-04
  • 訪  問  量:175
詳情介紹
產(chǎn)品&規(guī)范
高溫低溫溫變率循環(huán)數(shù)循環(huán) 時(shí)間備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選
工作極限溫度工作極限溫度5℃/min10~123h20min
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選
71℃-54℃5℃/min10

MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選
工作極限溫度工作極限溫度10℃/min10
駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度10℃時(shí)
NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選
55℃-53℃15℃/min10
駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度5℃時(shí)
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選
85℃-55℃15℃/min≧25
達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選
70℃-55℃5℃/min≧10
達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間
筆記型計(jì)算機(jī)
85℃-40℃15℃/min











電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱

電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱

電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱(也叫冷熱沖擊測(cè)試箱)主要用于測(cè)試電子元件(如電容、電阻、連接器等)在惡劣溫度變化下的工作穩(wěn)定性與耐久性。該試驗(yàn)箱通過模擬電容、電阻元件在快速冷熱變化環(huán)境中的行為,以評(píng)估其在實(shí)際應(yīng)用中可能遭遇的溫度應(yīng)力及長(zhǎng)期使用的可靠性。

試驗(yàn)箱的主要功能:

  1. 模擬環(huán)境變化: 通過快速切換高溫和低溫環(huán)境,模擬實(shí)際使用中可能發(fā)生的溫度波動(dòng),通常溫度范圍為-40℃至+150℃,甚至更寬。

  2. 溫度沖擊測(cè)試: 通過冷熱交替或快速的溫度沖擊(例如,從-40℃突然升高到+125℃),評(píng)估元件在溫差變化下的適應(yīng)性,檢查其是否存在裂紋、老化、短路或斷路現(xiàn)象。

  3. 電性測(cè)試: 在冷熱沖擊過程中,可以對(duì)元件的電阻、電容值進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),確保它們的電性能不會(huì)受到溫度變化的影響。

試驗(yàn)箱的基本組成:

  1. 溫控系統(tǒng): 包括高溫和低溫控制單元,能夠迅速實(shí)現(xiàn)溫度的快速變化。溫控系統(tǒng)要能精確控制溫度的升降速率和維持時(shí)間。

  2. 沖擊室: 內(nèi)部設(shè)有適合測(cè)試樣品的空間,通常為可調(diào)節(jié)大小的試驗(yàn)區(qū)。

  3. 監(jiān)控系統(tǒng): 具備實(shí)時(shí)記錄、顯示試驗(yàn)溫度、電性參數(shù)、試驗(yàn)過程等數(shù)據(jù)功能,確保試驗(yàn)的可控性與可追溯性。

  4. 程序控制: 高級(jí)試驗(yàn)箱常配備自動(dòng)化的程序控制系統(tǒng),用戶可以設(shè)定試驗(yàn)的溫度變化曲線、試驗(yàn)周期等,并實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的冷暖切換。

常見應(yīng)用:

  1. 電子元件測(cè)試: 電容、電阻、電感等元件的可靠性測(cè)試。

  2. 汽車行業(yè): 汽車電子元件的耐高溫低溫性能驗(yàn)證,尤其是在電池管理系統(tǒng)(BMS)中的應(yīng)用。

  3. 航空航天: 測(cè)試設(shè)備和材料在惡劣溫度變化下的適應(yīng)性和穩(wěn)定性。

  4. 消費(fèi)電子: 手機(jī)、計(jì)算機(jī)、家電等產(chǎn)品中電子元件的溫差耐受性測(cè)試。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱的一些關(guān)鍵指標(biāo):

  • 溫度范圍: 通常為-40℃至+150℃,部分高中端設(shè)備可以達(dá)到更惡劣的溫度范圍。

  • 溫度波動(dòng): 一般要求溫控精度為±2℃,保證測(cè)試環(huán)境穩(wěn)定。

  • 溫升/降速率: 常見為5℃/min至10℃/min,快速的溫度變化速度能更真實(shí)地模擬實(shí)際環(huán)境中的溫差應(yīng)力。

  • 冷卻方式: 使用液氮或壓縮氣體(如氮?dú)?、氟利昂)來?shí)現(xiàn)快速降溫。

選購(gòu)時(shí)的注意事項(xiàng):

  1. 試驗(yàn)箱容積: 選擇適合的試驗(yàn)箱大小,確保能夠容納所需測(cè)試的樣品。

  2. 溫度均勻性: 確保箱內(nèi)溫度均勻性,避免因局部溫差影響試驗(yàn)結(jié)果。

  3. 操作方便性: 配備便捷的控制面板和顯示屏,支持程序設(shè)置與實(shí)時(shí)監(jiān)控。

  4. 安全性能: 確保設(shè)備的安全性,避免在惡劣溫差下出現(xiàn)設(shè)備故障或危險(xiǎn)。

總之,電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱是對(duì)電子元件進(jìn)行環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試的重要工具,廣泛應(yīng)用于研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域。如果您需要了解更詳細(xì)的技術(shù)參數(shù)或購(gòu)買建議,可以告訴我更多的具體需求!




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